今天小编要和大家分享的是测量新闻相关信息，接下来我将从使用4215-CVU 电容电压单元进行fF飞法电容测量，半导体电容(1组)这几个方面来介绍。
测量新闻相关技术文章使用4215-CVU 电容电压单元进行fF飞法电容测量
作者：泰克科技
半导体电容一般是皮法 （pF） 级或纳法（nF） 级。许多商用 LCR 或电容表可以使用适当的测量技术测量这些值，包括补偿技术。但是，某些应用要求飞法 （fF） 或 1e-15级的非常灵敏的电容测量，包括测量金属到金属电容、晶圆上的互连电容、MEMS器件如开关、或者纳米器件上端子间的电容。如果没有使用适当的仪器和测量技术，我们很难测量这些非常小的电容。
通过使用工具，如选配4215-CVU电容电压单元（CVU）的Keithley 4200A-SCS参数分析仪，用户可以测量各种电容，包括《1 pF的超低电容值。CVU设计有独特的电路，通过 Clarius+ 软件进行控制，支持多种特性和诊断工具，确保最精确的测量结果。通过使用这个CVU及适当的技术，用户可以实现超低电容测量，支持几十阿法 （1e-18F） 的噪声。
本文介绍了怎样使用 4215-CVU 电容电压单元进行飞法电容测量，包括怎样进行正确的连接，怎样在 Clarius 软件中使用正确的测试设置来获得最好的测量结果。如需进一步了解怎样进行电容测量，包括线缆和连接、定时设置、保护和补偿，可以参阅吉时利应用指南“使用 4200A-SCS 参数分析仪进行最优电容和AC阻抗测量”。