可靠性单片机程序可靠性这个这个话题比较大，但是也还是有可行的方法来操作的
开发流程标准化，可以尽量往CMMI 3级标准上靠。要有系统设计文档输出，软件版本管理，bug管理系统进行bug跟进。
系统设计，主要是将整个系统按功能层次做好模块化设计。如果所在的公司或机构还没有一套成熟的系统功能划分方法，我建议你可以参考ARM 的 CMSIS架构来划分软件模块，然后进行系统设计。CMSIS架构如下图所示。
硬件，软件可靠性好，前提是它所运行的硬件系统也需要设计得可靠。这就需要设计硬件时多用你们已有的成熟电路，设计初期进行DFMEA等。
软件设计，提倡先写设计文档再撸代码。主要是设计的时候需要多做单元测试，提高代码质量。代码质量提高的方法有降低逻辑复杂度，模块化设计等，可以直接参考MISAR C标准做代码质量检测，这块工作有工具可以完成，不用人肉做，相关工具有polyspace，QAC，PC-Lint等。
实时性
要想实时性高，方法有两种，
简单粗暴的，直接用频率更高的MCU。
异步设计。这种设计主要是通过尽量少使用空跑循环来做延时实现的。比如这个例子，我希望foo函数延时n毫秒再做某事：
void foo（void）{
uint32_t i;
for(i=0;i；
//do something here
}
void task_5ms（void）{
foo（）；
}
上述这种就是死等延时，这种设计实时性很差，我们完全可以通过状态机的方式，让for循环这个延时释放出来做别的事。改进例子如下:
uint32_t delayCounter = 0;;
void foo（void）{
if(delayCounter{
delayCounter++；
}else{
//do something here
delayCounter=0；
}
}
void task_5ms（void）{
foo（）；
}
运用这种异步方法，可以大大提高系统实时性。还有就是像写flash，EEPROM这种操作，也可以先更新内存值，再统一10ms左右更新一次这样异步实现，来提高实时性。
测量准确性
测量准确性这块主要分三个方向分析和改善
硬件元器件，尽量选精度高的电阻电容，降低元器件引入的误差。
电路设计，PCB 布板时尽量降低由于布线引入的干扰，保证参考电压源和地不会因为干扰源发生抖动。
软件滤波。如果硬件已经成型，可以通过多个采样周期后求平均值，或者搞一个一阶滤波或者多阶滤波算法，甚至FFT采样然后去掉分频量的方法提高采样的准确度。还有就是对于一些明显的错误值，可以考虑丢弃掉，当前周期暂时使用上一个周期的有效值的方式去做计算。